COULOSCOPE

 

SkikttjockleksmätareCOULOSCOPE® CMS använder sig av koulometriska mätmetoden som är den enda snabba lösningen vid sidan av röntgen-fluorescens för mätning av trippelskikt såsom Cr/Ni/Cu på stål eller på plastsubstrat (ABS). Enkelskikt och dubbelskikt såsom zink på stål eller silver på nickel på tenn kan mätas utan problem. 

Med den koulometriska metoden avlägsnas ett metalliskt skikt på ett metalliskt eller icke-metalliskt substrat med hjälp av en elektrolyt samt elektrisk ström under kontrollerade förhållanden. Den elektriska strömmängden är direkt proportionell mot den metalliska massa som avlägsnas från substratet. Detta resulterar i en klar funktion mellan den avlösta metallen och tiden under förutsättning av den anslutna strömmen och avlösningsytan är konstant.

 

Kolla gärna in broschyren för mer utförlig och detaljerad information ->

Skikttjockleksmätare

 

Teknisk data

Mätprincip Koulometrisk
Mätområde 0.05 - 40 µm
Nätspänning 220 V, 50 Hz, 85 VA
Statistikfunktioner Max, min, medel, std avvik. etc
Minne 3000 mätvärden i upp till 50 applikationer
Dataport RS232
Standarder DIN EN ISO 2177 och ASTM B504
Drifttemperatur 10 - 40°C
Mått 350 x 140 x 200 mm
Vikt 4 kg

 




AB Kontrollmetod S. Långebergsgatan 18 421 32 Västra Frölunda
Tel 031-748 52 50 Fax 031-748 52 60
info@kontrollmetod.se